Ausstattung

Zeiss LEO1550 Rasterelektronenmikroskop_20200924_121619
Analytik

Zeiss LEO1550 Rasterelektronenmikroskop

Phasen- und Gefügeanalyse. Texturanalyse und Korngrößenanalyse (EBSD) sowie Analyse der Elementzusammensetzung von Phasen und Werkstoffen (EDX).
Hersteller: Carl Zeiss Microscopy GmbH
Zuständig: Dr. Susanne Hemes
Tel: +49 241 80 98021
Auflösung: Mikrometerbereich